考試內(nèi)容及范圍說明

821 自動控制原理

1、自動控制系統(tǒng)概述
2、控制系統(tǒng)的數(shù)學描述方法
控制系統(tǒng)的微分方程，非線性系統(tǒng)的線性化，傳遞函數(shù)，結(jié)構(gòu)圖與結(jié)構(gòu)圖化簡。
3、控制系統(tǒng)的時域分析
二階系統(tǒng)時域分析，高階系統(tǒng)時域分析，穩(wěn)定性分析，穩(wěn)態(tài)誤差分析。
4、根軌跡分析法
根軌跡作圖的基本法則，根軌跡圖的繪制，控制系統(tǒng)的根軌跡法分析。
5、頻率分析法
典型環(huán)節(jié)的頻率特性，開環(huán)頻率特性作圖，頻域穩(wěn)定性判據(jù)，開環(huán)頻率特性分析。
6、控制系統(tǒng)的校正方法
根軌跡法校正設計，頻率法串聯(lián)校正設計，參考模型法校正設計，頻率法反饋校正設計。
7、非線性系統(tǒng)分析
相平面分析法，描述函數(shù)法。
8、采樣控制系統(tǒng)分析基礎
開環(huán)脈沖傳遞函數(shù)，閉環(huán)脈沖傳遞函數(shù)，采樣系統(tǒng)的穩(wěn)定性分析。

822 信號與系統(tǒng)

1、信號的時域分析
2、系統(tǒng)的時域分析
3、信號的頻域分析
4、系統(tǒng)的頻域分析
5、連續(xù)信號與系統(tǒng)的復頻域分析
6、離散信號與系統(tǒng)的復頻域分析
7、系統(tǒng)的狀態(tài)變量分析

823 半導體物理

1、常見半導體（Si，Ge，GaAs）的晶體結(jié)構(gòu)、能帶結(jié)構(gòu)和物理性質(zhì)
2、純凈半導體、摻雜半導體中電子狀態(tài)，熱平衡載流子濃度，以及相關溫度特性；
3、載流子遷移率，電場作用下載流子漂移運動，半導體導電性，相關溫度特性，以及霍爾效應；
4、非平衡載流子的復合-產(chǎn)生機理，載流子壽命，以及擴散運動特性，載流子連續(xù)性方程；
5、同質(zhì)PN結(jié)特性、電流-電壓特性、電容特性、擊穿特性；
6、MOS結(jié)構(gòu)特性、表面狀態(tài)、電容-電壓特性；
7、金屬－半導體接觸特性，異質(zhì)結(jié)相關概念；